X射线荧光光谱仪
发布日期:2025-01-02


规格型号:MXF-2400

制 造 厂:日本岛津

应用范围:主要应用于材料从主量元素到杂质元素的同时无损分析。

参数范围:

1.分析范围:4Be—92U;

2.分析速度:<60s;

3.X射线发生系统:高压发生器≥4kW,X射线管4kW端窗式薄窗口,铑靶;

4.最大输出:50kV,100mA,>4kW;

5.定性:≤0.005%(输入电源波动为±10%);

6.分光系统:固定式分光器,每个元素都有各自专用的分光晶体;全元素真空系统;

7.检测器:所有元素全部采用密封型检测器,不使用气体;固定道每个元素都有专用的独立;

 8.计数器能力:≥ 4.5×106cps。